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400-617-8668
Santec掃頻測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)實(shí)時(shí)記錄可以同時(shí)獲取可調(diào)激光器的輸出功率與經(jīng)過(guò)DUT的傳輸功率，從而準(zhǔn)確計(jì)算出WDL/PDL的數(shù)據(jù)。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測(cè)量方案。
此系統(tǒng)也可簡(jiǎn)化為使用Santec 數(shù)據(jù)采集模塊(SPU-100)搭配其他光學(xué)的功率計(jì)或探測(cè)器，可廣泛用于WDL測(cè)試。
通過(guò)采樣和縮放算法在保持測(cè)試方案完整性上可以保持測(cè)試性能輸出。
另外，該系統(tǒng)尤其適用于DWDM和高Q光子器件光譜特性的測(cè)試。通過(guò)快速掃描和準(zhǔn)確測(cè)量可有效節(jié)省時(shí)間，以確保測(cè)試設(shè)備的完整性和有效性。
- 實(shí)時(shí)功率校正
1 數(shù)字準(zhǔn)確/ PDL特性測(cè)試
–高功率重復(fù)性＜±0.02db
–高重復(fù)性±0.01db PDL
2激光源功率自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)化 - 調(diào)整方法
1 高波長(zhǎng)分辨率＆高精度
2 縮短測(cè)量時(shí)間 - 支持多通道測(cè)量
- 支持LabVIEW控制軟件
1 便于建立測(cè)量參數(shù)
2 數(shù)據(jù)分析 - 光學(xué)器件和模塊特性
--可調(diào)諧濾波器、光交叉波分復(fù)用器、光纖布拉格光柵（FBG） 、連接器 - 分離器、 隔離器 、開(kāi)關(guān)
--WSS、波長(zhǎng)阻斷器
--DWDM器件 - 光學(xué)材料特性
- 光學(xué)光譜
構(gòu)成例
1/偏振測(cè)量相關(guān)
- 可調(diào)諧激光器TSL-710/TSL-550/TSL-510
- Santec PCU-100
- 光學(xué)功率計(jì)
- 光功率計(jì)Santec MPM-200/Agilent 816xA/B, 774xA 光功率計(jì)
2/波長(zhǎng)相關(guān)損耗測(cè)量（MPM-200）
- 可調(diào)諧激光器 TSL-710/TSL-550/TSL-510
- 光功率計(jì)Santec MPM-200
3/波長(zhǎng)相關(guān)損耗（其它功率計(jì)）
- 可調(diào)諧激光器TSL-710/TSL-550/TSL-510
- 掃描處理模塊SPU-100
- 功率計(jì)（需要數(shù)據(jù)記錄功能）
軟件支持
- Agilent 816xA/B, N774xA光功率計(jì)
- Yokogawa AQ2200 系列光功率計(jì)
- 光檢測(cè)器
如果需要連接其他設(shè)備可以與我們的技術(shù)人員取得聯(lián)系。
掃頻測(cè)試系統(tǒng)波長(zhǎng)相關(guān)損失 (Wavelength Dependent Loss)測(cè)量
1.測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍-可測(cè)量80dB以上的高動(dòng)態(tài)范圍
Santec可調(diào)諧激光器TSL系列，可降低ASE光噪音、實(shí)現(xiàn)了90dB/0.1nm以上*信噪比的同時(shí)，可維持+10dBm以上的高功率的輸出。高密度波分復(fù)用（DWDM）器件和WSS（Wavelength Selective Switch ）等在新一代器件評(píng)價(jià)中發(fā)揮其威力。以下是以各自帶通濾波器（CWDM濾波器）和噪音濾波器（FBG）的測(cè)量數(shù)據(jù)。
2.測(cè)量的波長(zhǎng)精度 +/-3pm
Santec可調(diào)諧激光器TSL系列，配備了高性能的波長(zhǎng)檢測(cè)器可進(jìn)行波長(zhǎng)精度的測(cè)量。Acetylene（12C2H2）氣體分子作為波長(zhǎng)參考
3. 測(cè)量寬波長(zhǎng)分辨率 <0.1pm
在該掃描測(cè)試系統(tǒng)不僅可以測(cè)量為測(cè)量光學(xué)器件（包括密集波分復(fù)用（DWDM）器件、波長(zhǎng)選擇開(kāi)關(guān) （WSS）等），根據(jù)波長(zhǎng)掃描分辨率可對(duì)濾波器（High Q腔裝置）進(jìn)行高效的測(cè)量。
Parameter
Unit
Specications
Notes
TSL-550
TSL-710
Type A
Type B
–
Wavelength Accuracy *1 (typ.) (Absolute) pm
±16
±4.6
±2.4
At 10nm/s ±19
±7.2
±5.0
At 40nm/s Wavelength Accuracy (typ.) (Relative) pm
±9
±3.1
±1.6
At 10nm/s ±12
±5.7
±4.2
At 40nm/s Wavelength Repeatability *2 pm
±6
±1.9
±1.0
At 10nm/s ±7
±3.5
±2.6
At 40nm/s Scan Speed nm/s
1 to 100
0.5 to 100
Dynamic Range for Insertion Loss (typ.) dB
70
Dynamic Range for PDL (typ.) dB
0 to 5
Measurement Time for IL (typ.) sec
4
At 40nm/s *4, *5 Measurement Time for IL / PDL (typ.) sec
14
At 40nm/s *4, *5 Wavelength Resolution pm
1
0.1
IL Accuracy (typ.) dB
±0.02
0 to 20dB Device IL ±0.03
20 to 40dB Device IL IL Repeatability *2, *3 (typ.) dB
±0.02(±0.01 (typ.))
IL Resolution dB
0.001
PDL Accuracy (typ.) dB
±(0.02 + 3% of PDL)
0 to 20dB Device IL ±(0.15 + 3% of PDL) (typ.)
20 to 40dB Device IL PDL Repeatability *2, *3 (typ.) dB
±0.01
PDL Resolution dB
0.01
Communication –
USB (USB 2.0 High Speed)
MPM-200 / PCU-100 / SPU-100 GP-IB (IEEE488.2)
TSL-550 / TSL-710 / MPM-200 / PCU-100 Operating Temperature degC
15 to 35
Operating Humidity %
< 80
non-condensing * All specifications are quoted after 1 hour warm-up period.
All specifications applies with santec optical power meter MPM-200.
*1 Temperature within 25°C±5°C
*2 Temperature within 25°C±1°C
*3 Does not include influence of connector.
*4 The measurement condition is within wavelength resolution 5pm, wavelength range 40nm for 1 channel.
*5 Measurement dynamic range per scan is up to 35dB.